Agilent Measurement Forum 2007

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スケジュール

6月5日　6月6日　 6月7日　 6月8日

2007年6月5日(火) High Speed Digital/Optical Day

■ FPGA技術
■ 光計測技術
■ エンベデッド技術
■ 最新計測器
■ ディスプレイインタフェース

Room A

Room B

Room C

Room D

9:30

受付

10:00

	ご挨拶
10:00 ～ 10:15

10:15

	D1-A-1 【基調講演】：進化するFPGA、その最新技術と将来展望
10:15 ～ 11:00 ザイリンクス株式会社代表取締役社長吉澤仁　様

11:00

	D1-A-2 【基調講演】：高速デジタル設計および評価試験の将来動向（通訳あり）
11:00 ～ 11:45 弊社　Design Verification Division Serial Applications Product Manager & Asst. USBIF Compliance Committee Chairman Jim Choate

11:45

ランチ・展示観覧時間

13:00

	D1-A-3 汎用FPGAを用いたシステム設計及び評価手法
13:00 ～ 13:45 アヴネットジャパン株式会社プロダクトマーケティング本部プロダクトマーケティング部ソリューションデベロップメントグループアヴネットデザインセンター長井倉将実　様

	D1-B-3 PCI Expressの基礎と最新評価ソリューション
13:00 ～ 13:45 弊社アプリケーション・エンジニアリング部荒井信隆

	D1-C-3 HDMIの最新コンプライアンス試験および解析ソリューション
13:00 ～ 13:45 弊社アプリケーション・エンジニアリング部今岡淳

	D1-D-3 【基調講演】：次世代ネットワーク用光デバイスにおける最新技術動向と課題
13:00 ～ 13:45 日本電信電話株式会社 NTTフォトニクス研究所複合光デバイス研究部主幹研究員　工学博士金子明正　様

13:45

休憩

14:00

	D1-A-4 大規模FPGAに効率よく対応できる実機デバッグ手法
14:00 ～ 14:45 弊社アプリケーション・エンジニアリング部里見尚志

	D1-B-4 初めてのSATA物理層測定と、コンプライアンス試験
14:00 ～ 14:45 弊社アプリケーション・エンジニアリング部坂田健

	D1-C-4 DisplayPortの革新的な技術概要と将来的な拡張性
14:00 ～ 14:45 Genesys Microchip Inc. Vice President, Display Port Business Alan Kobayashi　様

	D1-D-4 Reconfigurable Networkなど次世代ネットワーク向光デバイスに対する高度な波長特性解析とその標準化動向
14:00 ～ 14:45 弊社アプリケーション・エンジニアリング部山口修司

14:45

展示観覧時間

15:15

	D1-A-5 ソフトCPU搭載のFPGAを採用した組込みシステムの開発と評価
15:15 ～ 16:00 株式会社アットマークテクノ代表取締役実吉智裕　様

	D1-B-5 高速メモリインタフェースの設計手法
15:15 ～ 16:00 東京エレクトロンデバイス株式会社 PLDソリューション部長谷享　様

	D1-C-5 DisplayPortのコンプライアンス試験概要（通訳あり）
15:15 ～ 16:00 弊社 Design Verification Division Product Manager Brian Fetz

	D1-D-5 RIN測定のすべて - 測定手法とその特長
15:15 ～ 16:00 弊社フォトニック&ネットワーク・メジャメント事業部四方誠

16:00

休憩

16:15

	D1-A-6 USB Embedded Hostを中心にしたUSB2.0 コンプライアンステストと評価手法
16:15 ～ 17:00 弊社アプリケーション・エンジニアリング部岡崎淳起

	D1-B-6 組込みDDRメモリの評価手法
16:15 ～ 17:00 弊社アプリケーション・エンジニアリング部依田達夫

	D1-C-6 10BASE-T/100BASE-TX/1000BASE-T Ethernetの市場動向と最新評価手法
16:15 ～ 17:00 弊社アプリケーション・エンジニアリング部林徳義

	D1-D-6 光トランシーバ試験におけるアジレントの新しいソリューション紹介
16:15 ～ 17:00 弊社アプリケーション・エンジニアリング部竹嶋茂樹

17:00

展示観覧時間

17:15

	D1-A-7 最新のオシロで何ができるのか？
17:15 ～ 18:00 弊社マーケティングセンタ佐藤利宏

	D1-B-7 組み込みHW、FWエンジニアの為の最新デジタルデバッグ手法
17:15 ～ 18:00 弊社アプリケーション・エンジニアリング部菊地秀

	D1-C-7 間違いだらけのGHzオシロ選択方法
17:15 ～ 18:00 弊社マーケティングセンタ関野敏正

6月5日　6月6日　6月7日　 6月8日

2007年6月6日(水) High Speed Digital/Automotive Day

■ 高速デジタル要素技術
■ オートモーティブ技術
■ ワイヤレスUSB技術
■ 最新計測器

Room A

Room B

Room C

Room D

9:30

受付

10:00

	ご挨拶
10:00 ～ 10:15

10:15

	D2-A-1 【基調講演】：高速デジタル実装技術における課題と動向
10:15 ～ 11:00 芝浦工業大学工学部電子工学科教授　工学博士須藤俊夫　様

11:00

	D2-A-2 【基調講演】：～RFとデジタル・テクノロジーの融合～卓越したシグナル・インテグリティと革新的ソフトウェアがもたらす究極の高速デジタル測定とは（通訳あり）
11:00 ～ 11:45 弊社 Design Verification Division R&D Manager Dave Cipriani

11:45

ランチ・展示観覧時間

13:00

	D2-A-3 ジッタ測定　入門編
13:00 ～ 13:45 弊社アプリケーション・エンジニアリング部岡崎淳起

	D2-B-3 信号劣化・EMC・スキュー問題を容易に解決　－　LVDSの世界（入門編）
13:00 ～ 13:45 ナショナルセミコンダクタ- ジャパン株式会社アナログ・ビジネス本部　インターフェイス担当課長代理河西基文　様

	D2-C-3 ワイヤレスUSBの概要とデジタル変調技術の基礎
13:00 ～ 13:45 弊社マーケティングセンタ草薙仁

	D2-D-3 【基調講演】：車載ネットワークの特徴と動向
13:00 ～ 13:45 株式会社ルネサステクノロジ自動車事業部　自動車応用技術第三部次世代車載LANグループ　グループマネージャー松原公克　様

13:45

休憩

14:00

	D2-A-4 高速伝送路評価の基礎と要点
14:00 ～ 14:45 弊社アプリケーション・エンジニアリング部陰浦俊則

	D2-B-4 ファイバーを銅線へ　－　３～１０Ｇｂｐｓを容易に実現する信号伝送技術
14:00 ～ 14:45 ナショナルセミコンダクタ- ジャパン株式会社アナログ・ビジネス本部　インターフェイス担当課長代理河西基文　様

	D2-C-4 最新情報！ワイヤレスUSBのコンプライアンス試験概要と具体的な評価方法（通訳あり）
14:00 ～ 16:00 弊社 Design Verification Division Serial Applications Product Manager & Asst. USBIF Compliance Committee Chairman Jim Choate

	D2-D-4 エラーゼロを目指した製品開発のためのFlexRay,CAN,LIN評価手法
14:00 ～ 14:45 弊社アプリケーション・エンジニアリング部小室行央

14:45

ランチ・展示観覧時間

15:15

	D2-A-5 プリント基板における高速回路シミュレーション精度向上の工夫
15:15 ～ 16:00 アイカ工業株式会社電子カンパニー　基板商品開発グループ長田中顕裕　様

	D2-B-5 高速デジタル伝送におけるジッタ評価法の勘所
15:15 ～ 16:45 弊社アプリケーション・エンジニアリング部山中正樹

	D2-D-5 車載ネットワーク　差動伝送路設計の留意点と最新評価手法
15:15 ～ 16:00 弊社アプリケーション・エンジニアリング部井部環奈

16:00

休憩

16:15

	D2-A-6 回路シミュレータＡＤＳを用いた、効率的、高精度アイ・ダイアグラム評価
16:15 ～ 17:00 弊社 Eesof Division Design Flow Marketing Sanjeev Gupta

	D2-C-6 間違いだらけのGHzオシロ選択方法
16:15 ～ 17:00 弊社マーケティングセンタ関野敏正

	D2-D-6 モジュールレベルからのＥＭＩ設計・評価
16:15 ～ 17:00 ＮＥＣエンジニアリング株式会社デバイスソリューション事業部　ＥＭＣ応用開発部佐藤　康喜　様

16:45

17:00

展示観覧時間

17:15

	D2-D-7 次世代の計測インタフェース LXIの概要、そしてTCU/ECUファンクションテストへの応用事例（通訳あり）
17:15 ～ 18:00 弊社 Agilent Open Program Chris Van Woerkom

6月5日　 6月6日　6月7日　6月8日

2007年6月7日(木) Wireless/Component/Semiconductor Day

■ 携帯電話
■ WiMAX
■ 部品計測
■ 無線ネットワーキング
■ 最新計測技術
■ 半導体評価

Room A

Room B

Room C

Room D

9:30

受付

10:00

	ご挨拶
10:00 ～ 10:20

	W3-D-1 半導体エンジニアのためのＩＶ(電流-電圧)測定基礎
10:00 ～ 10:45 弊社ソリューション・ビジネス営業統括部パラメトリックテストAE部鈴木貴智

	W3-A-1 【基調講演】：ワイヤレスブロードバンド時代の研究開発・標準化・試験認証サービス改善のあり方について
10:20 ～ 11:05 財団法人　テレコムエンジニアリングセンター　理事長甕昭男　様

10:20

10:45

	W3-D-2 半導体エンジニアのためのＣＶ(容量-電圧)測定基礎
10:45 ～ 11:30 弊社ソリューション・ビジネス営業統括部パラメトリックテストAE部加原和明

11:05

休憩
	W3-A-2 【基調講演】：ユビキタスネットワーク社会を支える通信モジュール
11:15 ～ 12:00 株式会社村田製作所野洲事業所　モジュール事業本部　通信モジュール商品事業部事業部長中島　規巨　様

11:15

11:45

12:00

ランチ・展示観覧時間

13:00

	W3-D-3 【基調講演】：微細MOSトランジスタの特性ばらつき：課題と対策
13:00 ～ 13:45 東京大学生産技術研究所　教授半導体MIRAIプロジェクト -半導体先端テクノロジーズ(Selete) 平本俊郎　様 13:45 休憩 14:00

13:30

	W3-A-3 今から始める無線LAN 802.11a/b/gの基礎
13:30 ～ 14:15 弊社アプリケーション・エンジニアリング部佐久間洋

	W3-B-3 LTEの最新規格動向と測定技術
13:30 ～ 14:15 弊社シグナルアナリシスディビジョン開発企画担当横山充

	W3-C-3 今が旬！1xEV-DO rev.A の基礎と端末の評価手法
13:30 ～ 14:15 弊社アプリケーション・エンジニアリング部中村顕

14:00

	W3-D-4 スケーラブル・プラットフォームを実現する次世代パラメトリックテスタの概要
14:00 ～ 14:45 弊社半導体パラメトリックテスト事業部中井卓志

14:15

休憩

14:30

	W3-A-4 高速無線LAN 802.11n MIMO技術概要と新しい測定チャレンジ
14:30 ～ 15:15 弊社アプリケーション・エンジニアリング部佐久間洋

	W3-B-4 最新のネットワーク・アナライザを用いたデバイス評価の効率化
14:30 ～ 15:15 弊社アプリケーション・エンジニアリング部大沼克己

	W3-C-4 次なる技術、HSUPAの基礎
14:30 ～ 15:15 弊社アプリケーション・エンジニアリング部小薮哲夫

14:45

15:15

展示観覧時間

15:45

	W3-A-5 基礎から分かるMobile WiMAX
15:45 ～ 16:30 弊社アプリケーション・エンジニアリング部斉藤吉敬

	W3-B-5 最新のネットワーク・アナライザを用いた高確度な雑音指数測定法のご紹介
15:45 ～ 16:30 弊社アプリケーション・エンジニアリング部桜井　昭寛

	W3-C-5 無線機器のデジタル・インタフェースにおける信号発生と解析手法～DigRF・CPRIから独自方式まで～
15:45 ～ 16:30 弊社アプリケーション・エンジニアリング部森下幹夫

	W3-D-5 超短パルスIV測定を用いたデバイス評価技術
15:45 ～ 16:30 弊社ソリューション・ビジネス営業統括部パラメトリックテストAE部竹内泰彦

16:30

休憩

16:45

	W3-A-6 Mobile WiMAX物理層の評価法　～Wave2へ向けたご提案～
16:45 ～ 17:30 弊社アプリケーション・エンジニアリング部山口勲

	W3-B-6 最新のネットワーク・アナライザを用いた2信号印可による実稼働状態での平衡デバイス測定のご紹介
16:45 ～ 17:30 弊社アプリケーション・エンジニアリング部長谷川　寛

	W3-C-6 MXAシグナルアナライザとMATLAB^TMを使ったカスタム計測環境の構築
16:45 ～ 17:30 弊社シグナルアナリシス事業部井土　直也

	W3-D-6 デバイス雑音評価に対応するソリューション：1/fノイズ測定/ノイズパラメータの抽出について
16:45 ～ 17:30 弊社ソリューション・サービス部江口隆志

17:30

閲覧時間

6月5日　 6月6日　 6月7日　6月8日

2007年6月8日(金) Wireless/Component/Semiconductor Day

■ 携帯電話
■ WiMAX
■ 部品計測
■ 無線ネットワーキング
■ 最新計測技術
■ 半導体評価
■ パッケージ評価

Room A

Room B

Room C

Room D

9:30

受付

10:00

	ご挨拶
10:00 ～ 10:20

	W4-D-1 半導体エンジニアのためのＩＶ(電流-電圧)測定基礎
10:00 ～ 10:45 弊社ソリューション・ビジネス営業統括部パラメトリックテストAE部鈴木貴智

10:20

	W4-A-1 【基調講演】：4G（IMT-Advanced）に向けて進化するモバイルWiMAX
10:20 ～ 11:05 インテル株式会社研究開発本部ワイヤレスシステムグループ主幹研究員工学博士庄納崇　様

10:45

	W4-D-2 半導体エンジニアのためのＣＶ(容量-電圧)測定基礎
10:45 ～ 11:30 弊社ソリューション・ビジネス営業統括部パラメトリックテストAE部加原和明

11:05

休憩

11:15

	W4-A-2 【基調講演】：KDDIのWiMAXへの取り組み
11:15 ～ 12:00 KDDI株式会社技術統轄本部技術開発本部技術戦略部ワイヤレスブロードバンド開発室室長要海敏和　様

11:30

12:00

ランチ・展示観覧時間

13:30

	W4-A-3 最新のネットワーク・アナライザを用いたデバイス評価の効率化
13:30 ～ 14:15 弊社アプリケーション・エンジニアリング部大沼克己

	W4-B-3 基礎から分かるMobile WiMAX
13:30 ～ 14:15 弊社アプリケーション・エンジニアリング部斉藤吉敬

	W4-C-3 今から始める無線LAN 802.11a/b/gの基礎
13:30 ～ 14:15 弊社アプリケーション・エンジニアリング部佐久間洋

	W4-D-3 次世代デバイスの信頼性評価技術(NBTI、QSCV測定手法)
13:30 ～ 14:15 弊社半導体パラメトリックテスト事業部穐山知幸

14:15

休憩

14:30

	W4-A-4 ネットワーク・アナライザの正しい選び方
14:30 ～ 15:15 弊社アプリケーション・エンジニアリング部石井幹

	W4-B-4 Mobile WiMAX物理層の評価法　～Wave2へ向けたご提案～
14:30 ～ 15:15 弊社アプリケーション・エンジニアリング部山口勲

	W4-C-4 Certified Wireless USBにむけて～WiMedia物理層(PHY)測定とTELEC-T406技術適合試験に求められる測定
14:30 ～ 15:15 弊社アプリケーション・エンジニアリング部杉山裕之

	W4-D-4 微小インピーダンスの評価と検証
14:30 ～ 15:15 弊社アプリケーション・エンジニアリング部井上賢一

15:15

展示観覧時間

15:45

	W4-A-5 ネットワーク・アナライザを使った測定の不確かさを管理する
15:45 ～ 16:30 弊社サービス部門部門長　豊田豊 JCSS技術アドバイザー　青木俊明

	W4-B-5 WiMAX 認証試験システム(通訳あり)
15:45 ～ 16:30 AT4 wireless社システムディビジョンディレクター Andres Moreno 様

	W4-C-5 MXAシグナルアナライザによる効果的なRFID測定～RFID解析と電波法試験を1台で～
15:45 ～ 16:30 弊社アプリケーション・エンジニアリング部砂子光繁

	W4-D-5 半導体パッケージにおける設計課題および解析技術を用いた設計手法
15:45 ～ 16:30 松下電器産業システムエンジニアリングセンターＥＭＣデザイングループ　主任技師瓜生一英　様

16:30

休憩

16:45

	W4-A-6 LTEの最新規格動向と測定技術
16:45 ～ 17:30 弊社シグナルアナリシスディビジョン開発企画担当横山充

	W4-B-6 発振器評価の基礎と最新手法
16:45 ～ 17:30 弊社アプリケーション・エンジニアリング部大津谷亜士

	W4-C-6 PSAシリーズをベースにしたCISPR16-1準拠のEMIレシーバのご紹介
16:45 ～ 17:30 弊社アプリケーション・エンジニアリング部池原司益

	W4-D-6 BGA package 評価。寄生容量、インダクタの評価
16:45 ～ 17:30 弊社ソリューション・コンサルタント荻野聡

17:30

展示閲覧時間

17:45